סילבוס

תוכן הקורס ומטרתו

קורס מבוא להכרת מיקרוסקופית אלקטרונים חודרים לצורך אפיון מבני במדע והנדסה של חומרים.

רקע; אופטיקת אלקטרונים (מקורות אלקטרונים, עדשות אלקטרוסטטיות ואלקטרומגנטיות, גלאים), רכיבי המיקרוסקופ; אברציות והגדרת רזולוציה לטרלית; דיפרקציית אלקטרונים ? SAED, micro-diffraction, CBED (בסיסי) ; מנגנוני קונטרסט בהדמייה: מסה-עובי, דיפרקצייה; פונקציית העברת הקונטרסט (contrast transfer function)של המיקרוסקופ ופונקציית העברת המודולציה (modulation transfer function) של הגלאי; הדמיית קונטרסט פאזה (high resolution) ; תיקון אברציה ספרית והשלכות לקונטרסט פאזה; הכנת דגמים; לפי הזמן, סקירת מבוא למיקרוסקופית אלקטרונים בחדירה אנליטי