תוכן הקורס ומטרתו
0581-5234-01
מעבדה במקרוסקופית אלקטרונים בחדירה TEM אנליטית לאפיון חומרים
תשתית המעבדה, כיוון ותפעול המיקרוסקופ ב STEM לעומת TEM, אופטיקת אלקטרונים; קונטרסט שדה חשוך (dark field) ב STEM. ספקטרוסקופיה EELS ו- EDS ב STEM. עיבוד התוצאות.
לסילבוס המפורט