סילבוס

תוכן הקורס ומטרתו

משקל: 2
רקע למיקרוסקופית אלקטרונים בסריקה (SEM). אינטרקציה של אלומת אלקטרונים בחומר: מודלים לאינטרקציה אלסטית ואינאלסטית, סימולצית מונטה-קרלו לאינטראקציה. תכונות של האותות הראשיים המתקבלים ומיקרואנאליזה באמצעות קרינת X. אופטיקה של קרן האלקטרונים: מקורות אלקטרונים, עדשות מגנטיות ואברציות. עקרון יצירת תמונה. סוגי מיקרוסקופים אלקטרונים סורקים כולל ESEM ושיטות אפיון חדישות כולל Electron Backscattered Diffraction. אספקטים פרקטיים לעבודת SEM ואפליקציות מגוונות.
הערות: הקורס העיוני בשני שליש ראשונים של הסמסטר ומהווה דרישת קדם למעבדה (קורס נפרד) שתבוצע בשליש האחרון של הסמסטר. תאריכים מדויקים ופרוט נוסף יינתנו בפגישת הקורס הראשונה.
בקורס מעבדה יש 6 מקומות ב- 2 הקבוצות. נדרשת נוכחות מלאה במעבדה. הרישום מבוצע אחרי תחילת הקורס וקבלה לפי קריטריונים של הפקולטה. תאריכים מדויקים ופרוט נוסף יינתנו בפגישת הקורס העיוני הראשונה.
ניתן להירשם לקורס עיוני ללא מעבדה. בקורס עיוני תינתן עבודה.